2D整面式亮度計(光譜式)

LCD、OLED、Mini-LED和Micro-LED 中心區域光譜測量及成像式子子圖元級高精度亮度測量,支援顯示幕AOI、Mura補償、Gamma、Flicker多功能一體調測
產品功能描述
LCD、OLED、Mini-LED和Micro-LED 中心區域光譜測量及成像式子子圖元級高精度亮度測量,支援顯示幕AOI、Mura補償、Gamma、Flicker多功能一體調測。
功能應用展示
光譜與子圖元亮度一體測量。
應用場景
- LCD AOI+Gamma+Demura多合一
- Micro OLED/LED 中心點光譜+AOI
商品規格:

商品特點:
技術優點
- 多功能調測
適用於LCD、OLED、Mini-LED和Micro-LED等產品AOI、Mura補償、Gamma、Flicker等功能一體調測。
- 成像自動調節
通過軟體可實現自動調節光圈及對焦,成像清晰,並可自動匹配合適的待測樣品尺寸和亮度範圍。
- 高速率資料傳輸
內部採用高速資料匯流排,速率是GigE介面20倍,有效減少資料傳輸時間。
- 高精度測定
針對速度、解析度和測量精度進行優化。採用精測電子智慧財產權的圖像均勻性校準技術,能夠精確地回饋亮度的圖元級測定結果,實現高精度亮度測定。
- 智慧硬體架構
採用FPGA+GPU的智慧架構,實現智慧取圖與處理的一體化,可獨立於PC工作。同時搭配軟體可加快測量設置並簡化操作,自動匹配合適的均勻場標定,確保精准的測量結果。
- 自定標
通過增加自定標模組可實現自定標,降低作業成本。
關鍵技術點
- 支援同步測量。
- 採用的感測器具備高速,高解析度,採用TEC製冷技術,有效降低感測器雜訊,減小因溫度引起的測量誤差。
- 視覺化圖像與資料分析。
- 配套軟體支援嚮導式屏體自動適配與IC適配。
創新技術
自定標(通過增加自定標模組可實現自定標,降低作業成本)
檢視完整表格配套软件 ColorTest2.0

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